| 名称 | 规格 | 备注 | 现在销售价 |
| JL-100T逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，TTL/CMOS电平，带实时逻辑示波器 | 2290.00 |
| JL-100逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，TTL/CMOS电平 | 1890.00 |
| JL-100VT逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，0～+3.3V 可调触发电平，带实时逻辑示波器 | 2690.00 |
| JL-200逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～200M | 200M逻辑分析仪，200M/24通道/128K深度，-2.5V～+4.1V 可调触发电平，带实时逻辑示波器 | 4490.00 |
| JL-400逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～400M | 400M逻辑分析仪，400M/24通道/1M深度，-2.5V～+4.1V 可调触发电平，带实时逻辑示波器 | 6490.00 |
| JL-800逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～800M | 800M逻辑分析仪，800M/24通道/2M深度，-5V～+5V 可调触发电平，带实时逻辑示波器，带设备同步总线，能够扩展至96通道。 | 9990.00 |
| R-8T-25 | 8通道通用测试端子组件（电缆长25cm），每台全额配置数量3 | . | 129.00 |
| R-C6 | 精密测试夹，最小测试间距0.6mm，可测试表贴（SMD）元件，每台全额配置数量27 | . | 29.00 |
| JL-100T逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M
实时示波器(Hz)：100M
存储深度：32K
输入通道（本机）：24
数据建立时间：16ns
测量带宽：30MHz
输入阻抗：50KΩ
输入信号范围：0～5V
信号触发电平：TTL/CMOS
状态触发器：8组
功能计数器：61bits | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，TTL/CMOS电平，带实时逻辑示波器 | 2290.00 |
| JL-100逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M
存储深度：32K
输入通道（本机）：24
数据建立时间：16ns
测量带宽：30MHz
输入阻抗：50KΩ
输入信号范围：0～5V
信号触发电平：TTL/CMOS
状态触发器：8组
功能计数器：61bits | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，TTL/CMOS电平 | 1890.00 |
| JL-100VT逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～100M
实时示波器(Hz)：100M
存储深度：32K
输入通道（本机）：24
数据建立时间：16ns
测量带宽：30MHz
输入阻抗：1MΩ
输入信号范围：0～5V
信号触发电平：0～+3.3V
状态触发器：8组
功能计数器：61bits | 100M逻辑分析仪，100M/24通道/32K深度，0～+3.3V 可调触发电平，带实时逻辑示波器 | 2690.00 |
| JL-200逻辑分析仪（主机） | 采样频率(Hz)：1～200M
实时示波器(Hz)：200M
存储深度：128K
输入通道（本机）：24
数据建立时间：6.1ns
测量带宽：80MHz
输入阻抗：1MΩ
输入信号范围：-4V～+6.5V
信号触发电平：-2.5V～+4.1V
状态触发器：8组
沿触发器：8组
队列触发器：4级
脉宽触发器：(2ns-1h)×2
功能计数器：88bits | 200M逻辑分析仪，200M/24通道/128K深度，-2.5V～+4.1V 可调触发电平，带实时逻辑示波器 | 4490.00 |
| R-8T-25 | . | 8通道通用测试端子组件（电缆长25cm），每台全额配置数量3 | 129.00 |
| R-C6 | . | 精密测试夹，最小测试间距0.6mm，可测试表贴（SMD）元件，每台全额配置数量27 | 29.00 |
| R-P75 | . | 防颤测试探针，每台全额配置数量1 | 29.00 |
| JL系列全配置配件 | . | . | 1199.00 |