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◆ 产品编号:p0007303 |
◆ 产品名:XLE-III型大平台检测显微镜 |
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产品详细介绍 |
XLE-III型大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为:正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告,照片或连接数码相机,照相机直接拍照,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,储存,查询,可省去复杂烦琐的摄像,洗印等暗室工作,大大的提高了工作效率。检测显微镜具有特别的特点:1)放大倍数:40倍至500倍;2)超大型载物台,样品可作为大范围的纵横方向快速移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子,冶金,机械,化工,科研,院校等部门,以及金相技术检验,失效分析等。
基本配置 主机:1台 行程:204mm×204mm 三目镜:1 只 四孔转换器:1只 目镜:10×大视场目镜2只 滤色片:蓝,绿各一片 卤素灯:2只 电源:12V/50W |
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技术参数 |
机械筒长 |
160mm |
放大倍数 |
400倍至500倍 |
载物台面积 |
400mmX300mm |
纵向移动范围 |
254mm |
横向移动范围 |
254mm |
调焦机构 |
同轴粗微调机构,调焦范围36mm. 格值0.002mm |
光源 |
内藏式连续调光电源,钨卤素灯12V/50W |
物镜转换器 |
四孔式 (三孔式) |
目镜筒 |
三目镜 (双目镜) |
仪器功能 |
明场,偏光,摄影等 |
仪器重量 |
17公斤 |
仪器体积 |
长560mm,宽530mm,高400mm | |
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